2, 激光導熱儀測試溫度范圍是從RT至1600度,使用的是: 二硅化鉬加熱器爐, 二硅化鉬加熱器zui高加熱溫度能加熱到1800度,從而保證樣品能測試到1600度, 但是探測器仍然是InSb紅外探測器,控制爐溫及測試樣品溫度是熱電偶（注明:其它廠商沒有二硅化鉬加熱器爐）.

        3, 激光導熱儀測試溫度范圍是從RT至2000度, 使用的是:石墨加熱爐（或鎢加熱爐）,但是石墨加熱爐生產成本比二硅化鉬加熱器爐貴進大慨叁萬美元,并且石墨加熱爐容易被氧化,所以必需抽真空或通保護性氣體,另外值得注意的是: 石墨加熱爐控制爐溫及測試樣品溫度必須使用光學高溫計,不能使用熱電偶,因為熱電偶不能耐受1700度以上溫度,但是普通光學高溫計不能測試出RT-900度數據,如果測試RT至2000度使用普通光學高溫計測試900-2000度數據,使用熱電偶測試RT-800數據,它們之間不但相互更換繁瑣,且石墨爐對熱電偶有污染,造成使用成本加大（注明:美國安特公司解決此技術難題,使用的是黑體光學高溫計, 黑體光學高溫計可以連續測量、光滑覆蓋從室溫到2800℃測溫數據,一次性測試出結果數據）.