固體和液體熱傳遞性質的研究變得越來越重要。
薄膜導熱測試儀在許多領域中，例如汽車、航空、航天、發電/能源工業、陶瓷、建材和玻璃行業等，需要對所用材料的熱行為進行深入的研究。熱管理變得越來越重要，例如在能源價格上漲的背景下的節能建筑行業或對散熱要求高的半導體行業，尤其是在大規模集成電路上。因此Linseis在這方面做了大量的研究和開發，
薄膜導熱測試儀在多種熱性能測試，包括導熱系數、熱擴散系數、比熱測量系統等方面積累了豐富的經驗。
1.LFA/XFA—激光閃射法/氙燈閃射法
這種技術已被證明是用于熱傳導率和熱擴散系數測量快和可靠的技術。測量溫度范圍從-125℃—600℃(氙燈閃射法)或-125℃—2800℃(激光閃射法)，熱導率范圍從0.1W/(mK)—2000W/(mK)。此外，對于非常薄的樣品(薄膜從80nm—20μm)，我們開發了Linseis TF- LFA (薄膜導熱測試儀)采取了時域熱反射的測量技術，與LFA閃射系列形成了很好的的互補。
LINSEIS的LFA和XFA根據以下德國國家標準和標準工作：ASTM E – 1461、DIN 30905和DIN EN 821。
2.THB - 熱橋法導熱系數測試儀
利用這項技術可以測量-50—200℃溫度范圍內的熱導率、熱擴散率和比熱容。熱導率范圍從0.01W/(mK)—500W/(mK)，可與激光閃射法的測量范圍互補。可以自動測量固體，凝膠，膠體以及液體，只需要幾分鐘得到非常的結果。有很多不同授權的傳感器廣泛應用在上面。
3.HFM - 熱流法導熱系數測試儀
它是一種簡單快速的用于測量低導熱系數絕熱材料以及其它材料熱導性的高精度儀器。該儀器是根據標準ASTM C518、JIS A1412、ISO 8301和DIN 12667設計。測量的原理是，將樣品定位在一個熱板和冷卻板之間，并測量熱流。
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更新時間：2026-03-16
廠商性質：生產廠家
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