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產(chǎn)品中心導(dǎo)熱儀TLF-熱反射法薄膜導(dǎo)熱儀
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熱反射法薄膜導(dǎo)熱儀 TF-LFA L54采用頻域熱反射（FDTR）非接觸技術(shù)，專為精確表征納米至微米級薄膜材料的熱物性（導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴(kuò)散系數(shù)等）而設(shè)計(jì)。尤其適用于半導(dǎo)體、熱電、LED等領(lǐng)域的功能性薄膜。技術(shù)優(yōu)良，無需樣品熱容和密度已知，即可實(shí)現(xiàn)對薄膜及界面熱阻的完整評估。
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